Referenti: Cesare Melandri

Nanoindenter MTS XP-180

Lo strumento, dotato di punta Berkovich diamantata, consente di effettuare misure di modulo di Young, nanodurezze e anche tenacità alla frattura applicando carichi da 1 mN fino ad un massimo di 500 mN.
Grazie all’alta risoluzione di spostamento, 0.01 nm, permette di effettuare analisi puntuale su campioni opportunamente prepararti. Con questa tecnica è possibile valutare le suddette proprietà su rivestimenti e film sottili. E’ possibile inoltre effettuare misure all’interno di giunzioni per valutare la variazione di durezza e modulo elastico al variare della giunzione stessa. E’ possibile inoltre su materiali multifasici valutare le proprietà delle singole fasi.

Le più importanti caratteristiche del nanoindenter XP-180 sono:

  • profondità massima maggiore di 500 micron;
  • carico massimo: 500 mN;
  • carico di contatto inferiore ad 1 mN;
  • risoluzione dello spostamento in Z: 0.01 nm;
  • risoluzione del carico 50 nN.